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晶硅组件功率测试

设备测试条件:

  • 大气质量:AM1.5G
  • 辐照度:1000W/m²(STC) ,800W/m² (NMOT),200W/m² (低辐照度)
  • 温度: 25℃, NMOT

设备能力:

光谱范围:300-1200nm

辐照度范围:100~1200W/m²

光谱失配性:≤±12.5%  A+

辐照长期不稳定性:≤ 1%  A+

辐照不均匀性:≤ 1%  A +

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TÜV NORD中国区运营中心

Roger Miao | 缪存星
Tel:13761523397
SEND E-MAIL:rmiao@tuev-nord.com